塞貝克系數(shù)測(cè)量?jī)xSBA 458 Nemesis®的詳細(xì)資料：

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

適合于不同樣品尺寸的測(cè)量設(shè)置

SBA 458 Nemesis® 的特點(diǎn)在于其市面上*的測(cè)量設(shè)置，支持靈活多變的樣品尺寸。zui高的測(cè)量溫度可達(dá) 800℃。

快速進(jìn)行測(cè)量 - 方便的樣品切換

使用 SBA 458 Nemesis®，不再需要使用工具以插入與移除樣品。這使得更換樣品既快速又方便，且防止了各種原因可能導(dǎo)致的樣品損壞，如樣品粘在電極上等。

集成的質(zhì)量檢查 - *的雙加熱器系統(tǒng)

SBA 458 Nemesis® 的設(shè)計(jì)使用了雙加熱系統(tǒng)。對(duì)于每一所選的溫度臺(tái)階，加熱在一個(gè)交替的模式下進(jìn)行。在測(cè)量之前、以及在測(cè)量過(guò)程中，可以隨時(shí)觀察到對(duì)線性度的偏離，以及由于不精確的測(cè)量所導(dǎo)致的滯后現(xiàn)象。

高度可靠與堅(jiān)固的設(shè)計(jì) - 防止擴(kuò)散問(wèn)題

熱電偶位置使用機(jī)械方式進(jìn)行固定。在測(cè)量過(guò)程中，設(shè)定的接觸力（由重量與冷彈簧所致）可以防止熱電偶位置的變化。熱電偶帶有護(hù)套，以防止可能的與樣品的粘連擴(kuò)散。

無(wú)需測(cè)量距離

固定的熱電偶位置之間的距離測(cè)定是一個(gè)既麻煩、同時(shí)又經(jīng)常需要進(jìn)行的過(guò)程。SBA 458 的設(shè)計(jì)則減少了操作者在這方面的麻煩。由于在電導(dǎo)率測(cè)量過(guò)程中排除了這一潛在的錯(cuò)誤源，提高了結(jié)果的精度與重復(fù)性。

二、SBA 458 Nemesis® - 技術(shù)參數(shù)
● 設(shè)計(jì)：雙加熱系統(tǒng)，集成質(zhì)量檢查，水平式裝樣 
● 熱電偶：Inconel 鎧裝熱電偶，K 型（NiCr/NiAl），位置固定 

● 溫度范圍： 
- 低溫爐：-125...500°C 
- 高溫爐：RT ... 1100°C 
- 爐體可更換 
● 溫度設(shè)定范圍：無(wú)限制的溫度步數(shù) 
● 升降溫速率：0.1 ... 30 K/min 

● 樣品類(lèi)別：半導(dǎo)體，陶瓷，金屬，其他導(dǎo)電材料 
● 樣品形狀：方形，圓形，矩形，薄膜，涂層 
● 樣品尺寸： 
- 方形：10 × 10mm 
- 圓形：直徑 12.7 ... 25.4mm 
- 矩形（長(zhǎng)×寬）：12.7...25.4 mm × 2.0...25.4mm 
- 厚度：100 nm ... 3 mm（取決于樣品熱物性） 

● 塞貝克系數(shù)測(cè)試： 
- 范圍：10...2000 μV/K 
- 準(zhǔn)確性：± 7% 
- 重復(fù)性：± 3% 
- 雙向加熱測(cè)試，數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù) ≥ 100 
- 質(zhì)量檢查：測(cè)量開(kāi)始前；測(cè)量過(guò)程中 

● 電導(dǎo)率測(cè)試（四線法）： 
- 范圍：0.05...150000 S/cm 
- 準(zhǔn)確性：± 5% 
- 重復(fù)性：± 3% 
- 雙向變電流測(cè)試 
- 質(zhì)量檢查：測(cè)量開(kāi)始前；測(cè)量過(guò)程中 

● 氣氛：惰性，氧化性，還原性（gao 2% H2） 
● 支持負(fù)壓下的測(cè)試 
● 真空密閉性：10-2 mbar 

三、SBA 458 - 軟件功能
SBA 458 的軟件包含測(cè)試軟件與分析軟件兩部分，運(yùn)行于 Windows7 與 Windows10、32 位或 64 位平臺(tái)下。可以控制測(cè)試在設(shè)定的溫度區(qū)間內(nèi)進(jìn)行，易于操作和對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。
 

測(cè)量軟件的主要功能有：
● 編輯測(cè)量參數(shù)（可包含任意段的溫度步階） 
● 室溫下的預(yù)測(cè)試（質(zhì)量檢查） 
● 按設(shè)定溫度程序執(zhí)行測(cè)量。 
● 可同時(shí)測(cè)試電導(dǎo)率與塞貝克系數(shù)，也可選測(cè)兩者之一。 

分析軟件的主要功能有：
● 塞貝克系數(shù)與電阻率曲線查看 
● 多條曲線比較 
● 單獨(dú)查看每個(gè)溫度點(diǎn)下的質(zhì)量控制曲線 
● 刪除某些溫度點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果 
● 修改樣品尺寸，重新計(jì)算電導(dǎo)率 
● 塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率曲線擬合，導(dǎo)入 LFA 的熱導(dǎo)率數(shù)據(jù)，終計(jì)算 ZT 值 
● 各類(lèi)數(shù)據(jù)與圖譜的導(dǎo)出